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手持式液晶顯示四探針測(cè)試儀 導(dǎo)體、半導(dǎo)體、絕緣材料常溫及高溫等環(huán)境下電性能分析.

200高溫三環(huán)電極表面和體積電阻率測(cè)試儀用于描述絕緣材料在高溫變化趨勢(shì)下的電性能如電阻，電阻率的變化趨勢(shì)，具備高溫氣氛保護(hù)，PC軟件運(yùn)行及數(shù)據(jù)處理.用于對(duì)絕緣材料的研究分析；如橡膠，塑料，陶瓷，電化學(xué)材料等.

200導(dǎo)體材料四端測(cè)量高溫電阻率測(cè)試儀運(yùn)用四端測(cè)量方法測(cè)試材料電阻、電導(dǎo)率和電阻率，并配合高溫箱結(jié)合高溫治具與PC軟件對(duì)數(shù)據(jù)的處理和測(cè)量控制，解決導(dǎo)體材料的電導(dǎo)率對(duì)溫度變化測(cè)量要求，軟件實(shí)時(shí)繪制出溫度與電阻，電阻率，電導(dǎo)率數(shù)據(jù)的變化曲線(xiàn)圖譜，及過(guò)程數(shù)據(jù)值的報(bào)表分析.具有氣氛保護(hù)功能.

200導(dǎo)體材料四端測(cè)量高溫電阻率測(cè)試儀用于：企業(yè)、高等院校、科研部門(mén)對(duì)導(dǎo)電陶瓷、硅、鍺單晶（棒料、晶片）電阻率、測(cè)定硅外延層、擴(kuò)散層和離子注入層的方塊電阻以及測(cè)量導(dǎo)電玻璃（ITO）和其它導(dǎo)電薄膜等新材料方塊電阻、電阻率和電導(dǎo)率數(shù)據(jù).

1200高溫四探針雙電組合電阻率測(cè)試儀采用四探針雙電組合測(cè)量方法測(cè)試方阻和電阻率系統(tǒng)與高溫箱結(jié)合配置高溫四探針測(cè)試探針治具與PC軟件對(duì)數(shù)據(jù)的處理和測(cè)量控制，解決半導(dǎo)體材料的電導(dǎo)率對(duì)溫度變化測(cè)量要求，軟件實(shí)時(shí)繪制出溫度與電阻，電阻率，電導(dǎo)率數(shù)據(jù)的變化曲線(xiàn)圖譜，及過(guò)程數(shù)據(jù)值的報(bào)表分析.

1000高溫四探針雙電組合電阻率測(cè)試儀采用四探針雙電組合測(cè)量方法測(cè)試方阻和電阻率系統(tǒng)與高溫箱結(jié)合配置高溫四探針測(cè)試探針治具與PC軟件對(duì)數(shù)據(jù)的處理和測(cè)量控制，解決半導(dǎo)體材料的電導(dǎo)率對(duì)溫度變化測(cè)量要求，軟件實(shí)時(shí)繪制出溫度與電阻，電阻率，電導(dǎo)率數(shù)據(jù)的變化曲線(xiàn)圖譜，及過(guò)程數(shù)據(jù)值的報(bào)表分析.