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400高溫四探針雙電組合電阻率測試儀?采用四探針雙電組合測量方法測試方阻和電阻率系統(tǒng)與高溫箱結(jié)合配置高溫四探針測試探針治具與PC軟件對數(shù)據(jù)的處理和測量控制，解決半導體材料的電導率對溫度變化測量要求，軟件實時繪制出溫度與電阻，電阻率，電導率數(shù)據(jù)的變化曲線圖譜，及過程數(shù)據(jù)值的報表分析。

200高溫四探針雙電組合電阻率測試儀采用四探針雙電組合測量方法測試方阻和電阻率系統(tǒng)與高溫箱結(jié)合配置高溫四探針測試探針治具與PC軟件對數(shù)據(jù)的處理和測量控制，解決半導體材料的電導率對溫度變化測量要求，軟件實時繪制出溫度與電阻，電阻率，電導率數(shù)據(jù)的變化曲線圖譜，及過程數(shù)據(jù)值的報表分析。

半自動四探針觸屏測試儀：四點探針標準測試方法，采用步進系統(tǒng)自動控制探頭與樣品接觸，減少人為因素對測試結(jié)果的影響；參照A.S.T.M 標準；測量方塊電阻、電阻率、電導率數(shù)據(jù)、PC軟件采集和數(shù)據(jù)處理實現(xiàn)自動點測模式或手動點測模式，同一位置的重復測試或多點的面電阻測量，報表輸出數(shù)據(jù)統(tǒng)計分析；提供標準校準電阻件.

半自動四探針觸屏測試儀：四點探針標準測試方法，采用步進系統(tǒng)自動控制探頭與樣品接觸，減少人為因素對測試結(jié)果的影響；參照A.S.T.M 標準；測量方塊電阻、電阻率、電導率數(shù)據(jù)、PC軟件采集和數(shù)據(jù)處理實現(xiàn)自動點測模式或手動點測模式，同一位置的重復測試或多點的面電阻測量，報表輸出數(shù)據(jù)統(tǒng)計分析；提供標準校準電阻件。

半自動觸屏四探針測試儀：四點探針標準測試方法，采用步進系統(tǒng)自動控制探頭與樣品接觸，減少人為因素對測試結(jié)果的影響；參照A.S.T.M 標準；測量方塊電阻、電阻率、電導率數(shù)據(jù)、PC軟件采集和數(shù)據(jù)處理實現(xiàn)自動點測模式或手動點測模式，同一位置的重復測試或多點的面電阻測量，報表輸出數(shù)據(jù)統(tǒng)計分析；提供標準校準電阻件.

全自動四探針電阻測試儀，全自動化運行測量系統(tǒng)，PC軟件采集和數(shù)據(jù)處理；參照A.S.T.M 標準方法測試半導體材料電阻率和方塊電阻；可設定探針壓力值、測試點數(shù)、多種測量模式選擇,可顯示：方阻、電阻率、顯示2D,3D掃描/數(shù)值圖、溫濕度值、提供標準校準電阻件;報表輸出數(shù)據(jù)統(tǒng)計分析